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IC(集成电路)测试是IC芯片从设计到流片,再到应用过程中十分重要的一环,不只能够让半导体制造厂商节约大量的本钱,而且测试的结果十分的牢靠。IC测试针作为IC测试治具中比较重要的一个物件,主要起到什么作用呢?
1、加强治具的耐用度
IC测试探针的的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大,所以能取得更长的寿命。
2、不连续电接触设计
行程超越有效行程(2/3行程)或者普通行程时都可以保持较低的接触阻抗,消除因探针形成的假性开路形成的误判。
3、提高了测试精度
IC测试针由于愈加精密,通常直径都是0.58mm以下,总长不超越6毫米,所以可以到达同规格产品更好的准确度。
IC测试冶具通用性高,只需改换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使IC和PCB之间的数据传输间隔更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,DDR3系列的频率可达2000MHz。
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