IC测试针作为IC测试治具中重要的部件有什么作用？

　　IC（集成电路）测试是IC芯片从设计到流片，再到应用过程中十分重要的一环，不只能够让半导体制造厂商节约大量的本钱，而且测试的结果十分的牢靠。IC测试针作为IC测试治具中比较重要的一个物件，主要起到什么作用呢？

　　1、加强治具的耐用度

　　IC测试探针的的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大，所以能取得更长的寿命。

　　2、不连续电接触设计

　　行程超越有效行程（2/3行程）或者普通行程时都可以保持较低的接触阻抗，消除因探针形成的假性开路形成的误判。

　　3、提高了测试精度

　　IC测试针由于愈加精密，通常直径都是0.58mm以下，总长不超越6毫米，所以可以到达同规格产品更好的准确度。

　　IC测试冶具通用性高，只需改换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输间隔更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列的频率可达2000MHz。