探针

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产品详情

  探针的材质:W,ReW,CU、A+


  1.主要采用的材质为W,ReW,弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。


  2.A+材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此寿命较长。


  探针分类


  探针根据电子测试用途可分为:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针,国内大部分的探针产品均可替代进口产品;


  B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中,国内部分探针产品已研发成功,可替代进口探针产品;


  C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针,核心技术还是掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。


  探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。


  悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)


  垂直探针:垂直型(Vertical Type)


  1.IC探针(IC series Probes)


  一般直径在2.54mm-1.27mm之间,有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称IC测试和FCT测试.也是目应用较多的一种探针.


  2.界面探针(Interface Probes)


  非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,例如泰瑞达(Teradyne)和安捷伦(Agilent).用于测试机台与测试夹具的接触点和面.


  3.微型探针(MicroSeries Probes)


  两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.


  4.开关探针(Switch Probes)


  开关探针单独一支探针有两路电流.


  5.高频探针(Coaxial Probes)


  用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.


  6.旋转探针(Rotator Probes)


  弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试.


  7.高电流探针(High Current Probes)


  探针直径在2.54mm-4.75mm之间.大的测试电流可达39amps.


  8.半导体探针(Semiconductor Probes)


  直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ωcharacteristic


  9.电池接触探针(Battery and Connector Contacts)


  一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长.


  10.汽车线束测试测试探针


  专业用于汽车线束通断检测,直径在1.0--3.5mm之间,电流在3----50A


  除以上类型外还有温度探针,Kelvin探针等,比较少用.

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