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测试针带动IC测试治具的运行吗?

编辑:深圳市德律鑫科技有限公司  时间:2020-06-22

  测试针带动IC测试治具的运行吗?


  随着信息技术时代的发展,而今信息化代表了世界发展的潮流。信息产业不仅推动了全球的经济发展,而且成为科技创新的核心力量。IC市场前景广阔,那IC测试治具来说吧:


  IC测试治具是整个IC设计、流片、应用过程中不可或缺的一-环,它不仅可帮助厂商大幅节省测试成本,且测试结果直观可靠。测试针是IC测试治具中的重要零件之一-,那么它主要起到了什么作用呢?


  1、增强耐用度:IC测试治具测试针设计使弹簧空间比传统探针要大,因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。


  2、独有的永不间断电接触设计:行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值,彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。


  3、至目标测点准度误差更严谨:IC测试治具的测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点精度。


  IC测试冶具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使IC和PCB之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,DDR3系列高频率可达2000MHz。


  测试针是否是带动了IC测试治具运行呢?测试针对于IC测试治具作用确实蛮大的,以上分析你懂了吧?

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