双面测试

ICT双面测试

ICT双面测试

产品详情

  FCT测试治具单面测试治具配天板方便交换机种使用可调培林座,容易保养;使用压克力&电木&fr4材质&INGUN板材(或指定)。


  根据客户使用习惯采用Fabmaster&宇柏林&考迪分析软件自动处理gerber文件,软件自动生成钻孔文件,保证钻孔精度。测试程式自动生成,避免手工输入出错。


  ICT测试治具适用于tri、jet、newsys、okano、tescon、gwposhell、src、concord等ICT在线测试仪机型。


  IC测试治具阅读时间的方法


  IC测试治具的测试阅读时间有什么方法?公司电子总结出以下内容,希望对你有帮助,从内存中读取所需的数据,内存访问时间的IC测试治具。方法测试治具测试阅读时间一般如下:


  1,对单元写数据0”;


  2,写“1单元B”的数据;


  3,坚持阅读使读值;


  4,基本上是在记忆的持续时间的IC测试过炉治具的测量数据


  5,转换时间从地址转换来转换数据之间的时间;


  6,恢复时间之后所写的,写的读取存储单元必须等待时间;


  7,暂停时间,存储单元可以保持其状态的时间。


  8,刷新时间刷新存储器;


  9,建立的时间——变换输入的数据必须被锁定在输入时钟的时间提前;


  10,坚持以输入的数据必须坚持的时间锁定的时钟输入。


  同时,改变IC测试治具的测试周期,通过反复运行功能测试。测试设备的速度,周期和频率通常是通过二进制搜索法的快速变化,频率测试发现该设备可以运行。

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