ICT双面测试

　　FCT测试治具单面测试治具配天板方便交换机种使用可调培林座,容易保养;使用压克力＆电木＆fr4材质＆INGUN板材（或指定）。

　　根据客户使用习惯采用Fabmaster＆宇柏林＆考迪分析软件自动处理gerber文件，软件自动生成钻孔文件，保证钻孔精度。测试程式自动生成，避免手工输入出错。

　　ICT测试治具适用于tri、jet、newsys、okano、tescon、gwposhell、src、concord等ICT在线测试仪机型。

　　IC测试治具阅读时间的方法

　　IC测试治具的测试阅读时间有什么方法？公司电子总结出以下内容，希望对你有帮助，从内存中读取所需的数据，内存访问时间的IC测试治具。方法测试治具测试阅读时间一般如下：

　　1，对单元写数据0”；

　　2，写“1单元B”的数据；

　　3，坚持阅读使读值；

　　4，基本上是在记忆的持续时间的IC测试过炉治具的测量数据

　　5，转换时间从地址转换来转换数据之间的时间；

　　6，恢复时间之后所写的，写的读取存储单元必须等待时间；

　　7，暂停时间，存储单元可以保持其状态的时间。

　　8，刷新时间刷新存储器；

　　9，建立的时间——变换输入的数据必须被锁定在输入时钟的时间提前；

　　10，坚持以输入的数据必须坚持的时间锁定的时钟输入。

　　同时，改变IC测试治具的测试周期，通过反复运行功能测试。测试设备的速度，周期和频率通常是通过二进制搜索法的快速变化，频率测试发现该设备可以运行。